Описано экспериментальное устройство, измеряющее акустическую эмиссию (АЭ), и представлены результаты испытаний одножильных и многожильных высокотемпературных сверхпроводящих (ВТСП) лент (Bi,Pb)2Ca2Sr2Cu3Ox/Ag (Bi-2223/Ag). Показано, что при изгибе ВТСП лент Bi-2223/Ag происходит формирование и развитие микроповреждений, вызывающих сигналы АЭ, а сам метод АЭ может быть применен для определения дефектности и качества сверхпроводящих образцов на рассматриваемом микроструктурном уровне. Результаты испытаний демонстрируют, что при определении повреждаемости сверхпроводящих лент необходимо учитывать как деформацию, так и скорость деформации образца. Кроме того, показано, что данные, полученные методом АЭ при идентификации микроструктурных повреждений, коррелируют с результатами метода магнитооптических изображений (МОИ) и величиной критического тока.