Предлагаемый метод позволяет определять напряженно-деформированное состояние внутри композитных материалов посредством вживляемых тонкопленочных тензорезисторов на основе SmS. Толщина тензорезистора — 1 мкм, длина — от 5 мм до 10 см, что позволяет избежать главного недостатка тензометрического метода измерения напряжений на сравнительно небольших базах. Варьируемый коэффициент тензочувствительности К=10–130 позволяет получить большой по амплитуде выходной сигнал. Полностью исключен вероятностный аппарат при обработке выходных сигналов. Проведен сравнительный анализ тензометрического метода с лабораторным (образцы параллельно испытывались на нагрузочно-разрывающей машине Instron).